在Tecan的Infinite 200 pro機型Fnano plus與F plex, 標配下面兩種濾鏡,來有效提高訊雜比,尤其是二向鏡有效減少Fluorescein與HTRF的訊號干擾。
(1) 50% Mirror(50%弱化濾鏡):讓發散光的光通量少一半的光學濾鏡
(2) 510 Dichroic(510二向鏡):可讓染劑激發光反射給樣品,同時讓發散光通過給EM濾鏡之光學濾鏡(圖一)
圖一: 機型Fnano plus與F plex的光學原理
其中Beamsplitter是二向鏡或弱化濾鏡
圖二: 機型Fnano plus與F plex的
標配濾鏡應用範圍
執行操作軟體時,若Mirror選擇Automatic時,機器會依據「激發光(簡稱EX)」與「發散光(簡稱EM)」之設定波長,自動選擇510二向鏡或50%弱化濾鏡。若兩個EX與EM波長都在510二向鏡應用範圍(圖二),則儀器會自動使用510二向鏡,若其一種波長沒在此範圍,則改使用50%弱化濾鏡。
經二向鏡篩選後的EX和EM的訊號會比弱化濾鏡來的好,因此訊雜比也會來得較少。螢光偵測儀必須由燈泡給螢光樣品一個激發光,二向鏡能有效篩選掉偵測發散光時激發光所產生的雜訊。
若樣品使用螢光染劑Fluorescein,因為它的EX光譜與EM光譜有重疊部分(圖三),當執行螢光量測時,EM訊號產生時,重疊的部分會再次去被染劑吸收,造成訊號干擾
圖三(左):
螢光染劑Fluorescein的EX光譜與EM光譜
用510二向鏡優點(使用圖四濾鏡說明):
使用EX濾鏡:485nm(20nm)
當光源通過EX濾鏡:485nm(20nm),即475-495nm的光通過-->通過510二向鏡,反射475-490nm的光(排除大於490nm的迷光)通過樣品
使用EM濾鏡:535nm(25nm)
樣品放出訊號(下圖約450-690nm)-->通過510二向鏡,讓515-690nm的光通過(排除小於510nm的迷光)-->通過EM濾鏡:535nm(25nm),即522.5-547.5nm的光通過-->進入detector
Katy Yang
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