使用z-position減少螢光雜訊

 

Q:測螢光，但雜訊太高怎麼辦?

A: Spark在做上方讀取螢光時，可自動執行Z-position針對特定的well找

到最佳螢光訊號或訊雜比(signal/noise ratio)之位置，並以圖表顯示掃描結

果。最佳讀取位置可應用在每次螢光讀取上,亦可作手動1μm調整自行決定

讀取位置。

 

z-position:測量頭(fiber)與微量盤表面的間距。在Tecan的Spark，是以μm為

調整單位。它的z-position不僅可作上方(top)，還能作下方(bottom)

自動偵測哦!

如何執行z-position?

1.選一個well(A1)加染劑(Signal來源),另一個well(A2)加緩衝液(Blank來源),按SCAN(下圖紅框),開

始作z-position

2. SCAN完會自動顯示下面紅框內數據:

Well 1 (Signal):染劑的螢光強度最佳之位置

Well 2 (Blank):緩衝液的螢光強度最佳之位置

Max S/B ratio:軟體自行計算Signal除以Blnak,顯示Max S/B ratio的位置。

Manual: default值是20000 μm (指探測頭到微量盤表面的距離為2cm)。依客戶手動調整(下面紅色

箭頭指的那隻手),作左右拉黃線,確定要讀取的位置後再按

 

Apply,之後的量測都會以manual的值作為z-position

Katy Yang